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    如何保證半導體曲線圖示儀的合理使用

    發布日期: 2020-04-23
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       半導體曲線圖示儀是一種用示波管顯示半導體器件各種特性曲線,并可測量其靜態參數的測試儀器。與其它同類型圖示儀相比,主要區別在于采用了微機控制技術,引入了字符顯示,光標測量功能,使半導體管的各種靜態參數,包括β(hfe)、Gfs(gm) 均可光標測量、數字讀出, 給用戶帶來更多方便。為保證儀器的合理使用,既不損壞被測晶體管,也不損壞儀器內部線路,在使用儀器前應注意下列事項: 
      1.對被測管的主要直流參數應有一個大概的了解和估計,特別要了解被測管的集電極大允許耗散功率PCM、大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO、BVCBO 。 
      2.選擇好掃描和階梯信號的極性,以適應不同管型和測試項目的需要。 
      3.根據所測參數或被測管允許的集電極電壓,選擇合適的掃描電壓范圍。一般情況下,應先將峰值電壓調至零,更改掃描電壓范圍時,也應先將峰值電壓調至零。選擇一定的功耗電阻,測試反向特性時,功耗電阻要選大一些,同時將X、Y偏轉開關置于合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調節到需要值。 
      4.對被測管進行必要的估算,以選擇合適的階梯電流或階梯電壓,一般宜先小一點,再根據需要逐步加大。測試時不應超過被測管的集電極大允許功耗。
      5.在進行ICM的測試時,一般采用單簇為宜,以免損壞被測管。 
      6.在進行IC或ICM的測試中,應根據集電極電壓的實際情況選擇,不應超過本儀器規定的大電流。  
      7.進行高壓測試時,應特別注意安全,電壓應從零逐步調節到需要值。觀察完畢,應及時將峰值電壓調到零。
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