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    產品名稱:

    型半導體器件圖示測試系統

    產品類別: ENJ2005-C
    ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統,IV曲線自動生成,也可根據實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE 系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來,數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究.
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    ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統,IV曲線自動生成,也可根據實際需求設置功能測試,直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE 系統逐點建立,保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來,數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究.

    通過USB或者RS232與電腦連接,通過友好的人機界面操作,即可完成測試。并實現結果以EXCEL和WORD的格式保存。提供過電保護功能,門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。

    系統特征:

    ● IV曲線顯示/局部放大                           

    ● 程序保護zui大電流/電壓,以防損壞         

    ● 品種繁多的曲線

    ● 可編程的數據點對應                    

    ● 增加線性或對數

    ● 可編程延遲時間可減少器件發熱           

    ● 保存和重新導入入口程序

    ● 保存和導入之前捕獲圖象                 

    ● 曲線數據直接導入到EXCEL

    ● 曲線程序和數據自動存入EXCEL            

    ● 測試范圍廣(19大類、27分類)

    曲線測試:

    ID vs. VDS at range of VGS             

    ID vs. VGS at fixed VDS

    IS vs. VSD                             

    RDS vs. VGS at fixed ID

    RDS vs. ID at several VGS             

    IDSS vs. VDS  /  HFE vs. IC                            

    BVCE(O,S,R,V) vs. IC

    BVEBO vs. IE                          

    BVCBO vs. IC

    VCE(SAT) vs. IC             

    VBE(SAT) vs. IC

    VBE(ON) vs. IC (use VBE test)      

    VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF

    測試參數:

    漏電參數:IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

    擊穿參數:BVCEO、BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO

    增益參數:hFE、CTR、gFS

    導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

    關斷參數:VGSOFF

    觸發參數:IGT、VGT

    保持參數:IH、IH+、IH-

    鎖定參數:IL、IL+、IL-

    混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

    間接參數:IL

    應用領域 

    領   域軍工院所、  高校、半導體器件生產廠商、
    數控系統、  電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、
    新能源汽車、軌道機車檢修 等 ……
    使   用測試分析 / 器件選型
    篩選檢驗 / 生產線 自動 批量 測試 等 …… 。

    技術指標 

    主極參數控制極參數
    指標標配選配指標標配選配
    ①主極電壓:1mV-2000V1000V①控制極電壓:100mV-20V80V
    ②電壓分辨率:1mV ②電壓分辨率:1mV 
    ③主極電流:0.1nA-50A100A③控制極電流:100nA-10A40A
    ④電流分辨率:0.1nA10pA   
    ⑤測試精度:0.2%+2LSB    
    ⑥測試速度:0.5mS/參數    
     
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